Statystyczne sterowanie procesami SPC i Analiza systemów pomiarowych MSA

„Czy faktycznie muszę przejmować się tym, że Cpk jest słabe, skoro Cp mam bardzo wysokie?”, zastanawiał się Robert K podczas kolejnej godziny spędzonej nad sporządzaniem obliczeń statystycznych. „Najważniejsze, żebym wyrobił się z normą” myślał dalej, zwalniając kolejne 10000 detali bardzo zbliżonych jeden do drugiego, lecz również co do jednego... poza specyfikacją.

Chcesz uniknąć podobnych dylematów i ustrzec się kosztów swojej niewiedzy? Chcesz zrozumieć jaki wpływ na ocenę procesu ma jakość systemu pomiarowego? Zapraszamy na szkolenie

STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESAMI i ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH

Zakres szkolenia:

Rola i miejsce statystyki w ocenie zdolności procesu produkcyjnego - wykrywanie a zapobieganie
Zmienność procesu i jej przyczyn
Typy rozkładów występujące w procesach
Graficzna analiza rozkładu procesu za pomocą histogramu
Stratyfikacja danych
Sterowalność procesu jako podstawa do określania współczynników zdolności
Wskaźniki zdolności (Cm, Cmk, Cp, Cpk, Pp, Ppk) - wyznaczanie i interpretacja
Typy kart kontrolnych i ich zastosowania - karty dla wartości ciągłych oraz atrybutywnych/dyskretnych
Dobór kart kontrolnych z uwzględnieniem specyfiki badanych charakterystyk
Prowadzenie kart kontrolnych dla wartości ciągłych na przykładzie karty X-R
Interpretacja wyników uzyskanych za pomocą kart kontrolnych
Prowadzenie i interpretacja kart typu I-MR
Inne typy kart kontrolnych dla danych ciągłych (PRE-Control, CUSUM i EWMA) oraz ich zastosowania
Typy i prowadzenie kart kontrolnych dla danych dyskretnych na przykładzie karty P
Wymagania ISO/TS 16949:2002 a systemy pomiarowe
Podstawowe pojęcia statystyczne związane z MSA
Ogólne zagadnienia związane z oceną systemów pomiarowych

o Charakterystyka pomiarów, źródła błędów pomiarowych
o Wzorcowanie i kalibracja, spójność pomiarowa
o BIAS, zmienność, liniowość i stabilność w systemach pomiarowych

Metodyka wyznaczania zdolności urządzenia pomiarowego Cg i Cgk (Procedura I)
Powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego - metoda GRR (Procedura II)
Wyznaczaniu Cg i Cgk – ćwiczenia praktyczne
Analiza R&R dla danych ciągłych – ćwiczenia praktyczne
Rodzaje atrybutowych analiz R&R
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą wyznaczania współczynnika Kappa - omówienie i ćwiczenia praktyczne
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą wykrywania sygnału - omówienie i ćwiczenia praktyczne
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą analityczną (krótką) - omówienie i ćwiczenia praktyczne
Interpretacja wyników analiz pod kątem identyfikacji przyczyn błędów i doskonalenia kontroli

Cele szkolenia:

Wyjaśnienie, czym są czynniki zmienności procesu i jaki mamy na nie wpływ
Zrozumienie interpretacji współczynników zdolności procesu i ich wpływu na jakość produkcji.
Przedstawienie korzyści z wdrażania statystycznego procesu.
Wyjaśnienie istotności SPC jako jednego z kluczowych elementów w zapewnianiu jakości wyrobów
Zrozumienie konieczności poznania rozkładu procesu jako pierwszego kroku do oceny jego zdolności
Nabycie umiejętności doboru, prowadzenia i interpretacji kart kontrolnych
Zrozumienie wpływu systemu pomiarowego na ocenę procesu
Zrozumienie interpretacji współczynnika GRR oraz wynikających z niego możliwości doskonalenia systemu pomiarowego
Praktyczne poznanie i interpretacja metod oceny systemów atrybutowych

Adresaci szkolenia:
Szkolenie skierowane jest przede wszystkim do osób odpowiedzialnych za projektowanie i nadzór nad procesami technologicznymi oraz za dobór i ocenę systemów pomiarowych. W modelu kompetencji Formuły Jakości w szkoleniu powinni uczestniczyć kandydaci na: Inżyniera jakości w motoryzacji oraz Inżyniera procesu w motoryzacji. Sugerujemy również udział osób realizujących funkcje opisane w pozostałych profilach, czyli: pełnomocników ds SZJ, Audytorów wewnętrznych oraz Liderów projektu w motoryzacji.

Koszt szkolenia: 1550 zł / 1 osoba

Miejsce: Szczyrk, hotel "Elbrus"
Termin: 13-14.10.2010
Czas trwania szkolenia: 2 dni po 8 godzin

Cena obejmuje: